X射线光谱有害元素分析仪EDX-9000是一款采用X射线荧光光谱仪器技术专业用于有害元素分析测试的有害元素测试仪器,可测硫S到铀U元素范围,分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm,它采用极速探测器技术(SDD)可将测试时间降低到1秒,还采用了skyray天瑞仪器**产品精密的定位系统,可实现图像联动控制,多点连续测试。
X射线光谱有害元素分析仪EDX-9000特色
快—1秒钟出结果
采用行业的极速探测器技术——(SDD)分辨率低至125eV
you势:探测面积大(面积达25mm2)、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率hao,探测效率*高,探测信噪比*强,检出限*低
采用行业的数字多道技术
you势:有效提高输出效率,实现超高计数率,保证采集有效计数率可达600KCPS
采用大功率X光管及xianjin的准直滤光系统,激发效率*高
光闸系统you势:样品*换无需关闭高压,提高测试效率与测试精度
精密的定位系统
超高清晰工业摄像头,*清晰的显示测试点
多点测试
2D全自动移动样品台——可实现图像联动控制,多点连续测试
超小样品检测——小可测到0.2毫米
8种准直器、4种滤光片快速切换功能,可根据不同样品进行选择
准直器小可达0.2毫米,针对超小样品可准确聚焦检测
人性化的设计
*安全:X射线联动安全装置——光闸与联动装置互动;仪器外壳与高压使能端相联动
*快捷:多点测试,点哪测哪
预约预热:根据设定时间,仪器可定时开始测试
预约开机预热功能:客户可预约仪器开机时间,同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态;同时可以实现预约关机,
关机前可设定声光提示
X射线光谱有害元素分析仪EDX-9000技术参数
测量元素范围 :硫(S)~铀(U)
测量时间:1s或以上
检出限:分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm
含量范围:2ppm~99.9%
管压:5~50KV
管流:≤1000uA
探测器:SDD探测器,分辨率可达125eV
准直器:8种准直器自动切换
滤光片:4种滤光片自由切换
样品观察:高清工业摄像头
环境湿度:≤70%
环境温度:15℃~30℃
电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)